日本filmetrics臺式膜厚測量系統F3-CS
F3-CS是測量小樣品的最佳測量系統。與測量臺集成的測量系統使其易于攜帶。
只需將樣品的測量面朝下放置在載物臺上即可進行測量，約1秒即可測量出膜厚和折射率。
緊湊的尺寸
輕松連接，僅 USB 連接
光學常數分析（折射率/消光系數）
| 光學鍍膜 | 硬涂層、防滴膜、聚對二甲苯等 |
|---|---|
| 平板 | 有機膜等 |
日本filmetrics臺式膜厚測量系統F3-CS
| 模型 | F3-CS-UV | F3-CS | F3-CS-近紅外 |
|---|---|---|---|
| 測量波長范圍 | 190 – 1100nm | 380 – 1050nm | 950 – 1700nm |
膜厚測量范圍 | 3nm – 40μm | 15nm – 70μm | 100nm – 250μm |
| 準確性* | ± 0.2% 薄膜厚度 | ± 0.4% 薄膜厚度 | |
| 1納米 | 2納米 | 3納米 | |
*取決于樣品和測量條件
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