在高精度制造領域，薄膜技術正向著更薄、更均勻、性能更好方向飛速發展。從保障芯片性能的超薄光刻膠，到決定顯示屏觀感的光學膜，再到關乎未來的新能源電池隔膜，薄膜的厚度，已不僅僅是尺寸，更是決定產品性能、良率與可靠性的核心生命線。
面對日益嚴苛的工藝要求，您是否正被以下問題困擾？
傳統測厚儀精度不足，無法準確評估超薄膜材料的真實厚度？
人為操作誤差大，測量數據重復性差，難以指導精密生產？
測量壓力控制不當，導致柔軟薄膜變形，測量值失真？
答案，在于對“精度的追求"。富士工作HKT-Master0.01AA超薄膜測厚儀，應運而生，為您開啟微米世界的精準洞察。
當薄膜進入微米甚至亞微米級別，0.1μm的偏差都可能導致產品性能的巨大差異。HKT-Master0.01AA以其0.01μm（10納米）的驚人分辨率，將測量精度提升至全新高度。這意味著，您能夠清晰洞察以往被誤差“模糊"掉的厚度細節，實現對材料特性的絕對掌控。
精準掌控，提升良率： 在半導體和光學薄膜領域，厚度均勻性直接關聯產品良率。HKT-Master0.01AA幫助您精確識別并控制生產中的厚度波動，從源頭減少廢品，提升效益。
材料研發，加速創新： 對于新材料研發，準確可靠的厚度數據是建立構效關系的基礎。本儀器為研發人員提供了無可置疑的數據支撐，加速從實驗室到量產的成功轉化。
高精度并非HKT-Master0.01AA的全部。我們深刻理解，測量本身不能改變樣品。
恒壓測量技術，還原真實厚度： 儀器采用恒定的0.14N超輕測量力，并配備R30碳化物球形測量頭。這種組合能有效避免因壓力過大或接觸點尖銳而導致的薄膜壓縮或劃傷，確保您測量到的是樣品在無干擾狀態下的真實厚度，尤其適用于柔軟、易變形的薄膜材料。
消除人為誤差，數據一致可信： 人性化的操作設計消除了按壓力度、角度等人為因素影響。無論由誰操作，無論在何時測量，結果都高度一致，確保了質量管理體系的可靠與公正。
HKT-Master0.01AA不僅是儀器，更是您遍布全產業鏈的精密質量控制伙伴。
半導體行業： 精準測量晶圓上的光刻膠、CMP拋光層、各類沉積薄膜厚度，為芯片制造保駕護航。
光學薄膜領域： 用于顯示觸摸屏的ITO導電膜、增亮膜、偏光片等，確保光學性能的一致性。
當您選擇富士工作HKT-Master0.01AA，您獲得的不僅是一臺儀器，更是一套完整的厚度質量管理方案。它意味著：
產品性能
更穩定居高不下的生產良率
更快速高效的研發周期
更強大可信的品牌聲譽
邁向微米世界的新紀元，無需妥協。讓富士工作HKT-Master0.01AA測厚儀，成為您質量堡壘中最堅實的基石。
