在半導體、光學薄膜、新材料研發等高精度制造領域，材料的厚度往往決定著產品的性能與命運。當測量精度進入微米乃至納米級別，您是否仍在為數據的準確性、操作的穩定性以及設備的可靠性而困擾？
富士工機HKT-Master 0.01AA超薄膜測厚儀，一款專為挑戰極限精度而打造的專業儀器，旨在為您提供無可挑剔的測量解決方案，成為您品質控制與前沿研發中值得信賴的伙伴。
我們深知，在超薄膜測量中，每一個微小的數字都舉足輕重。HKT-Master 0.01AA集成了富士工機的工藝與創新技術，為您帶來以下核心優勢：
?? 精度，洞察入微
0.01μm（10納米）的超高分辨率，讓超薄膜材料的微小厚度變化無處遁形。無論是監測靜電卡盤的細微磨損，還是測量關鍵的光學鍍膜，它都能提供足以讓您信賴的精準數據。
?? 恒定壓力，穩定如一
摒棄傳統測厚儀因人為施力不均帶來的誤差。HKT-Master 0.01AA采用恒定的0.14N測量壓力與測量頭向下恒定設計，確保每一次測量都在相同的條件下進行，數據重復性高，不同操作者也能獲得一致結果。
?? 匠心選材，經久耐用
核心測頭采用R30碳化物（碳化鎢）球形測頭，這種超硬耐磨材料能有效抵抗長期使用帶來的磨損，極大延長了設備壽命，并保證了長期測量精度不衰減，為您節省長期成本。
?? 人性設計，高效便捷
融合人體工學設計，長時間操作也不易疲勞。支持數據導出功能，便于您進行質量追溯、統計分析及報告生成，無縫對接您的質量管理體系。
HKT-Master 0.01AA不僅是測量工具，更是推動產業升級的關鍵力量。
半導體行業：精準測量靜電卡盤（ESC）磨損厚度，實現預測性維護，避免非計劃停機，保障晶圓生產的連續性與穩定性。
光學與電子行業：用于各類光學鏡頭、濾光片、顯示屏及觸摸屏等功能性薄膜的厚度質量控制。
材料科研：為新材料的研發提供精準、可靠的超薄膜厚度數據支撐，加速研發進程。
富士工機HKT-Master 0.01AA以其性能，已經成為半導體設備維護、超薄材料研發及任何對厚度測量有嚴苛要求場景下的設備。它代表的不僅是一臺儀器，更是一種對品質追求的態度。
如果您的測量需求在0.1μm級別，且更看重便攜性與無線操作，不妨也了解一下我們同系列的HKT-Lite 0.1型號，它或許是您更具性價比的優質之選。
