在烘焙行業的精細化發展進程中，面包體積與質構參數的精準測量已成為研發創新與質量控制的核心環節。傳統排水法測量不僅效率低下（單樣品檢測耗時超 3 分鐘），更因接觸式測量破壞樣品完整性，導致數據參考價值大打折扣。日本 k-axis 研發的 AR-01 面包激光體積計，以非接觸式激光掃描技術為核心，實現了測量精度與檢測效率的雙重突破，為烘焙企業提供了從實驗室研發到生產線質檢的全場景解決方案。
雙攝像頭激光技術：重新定義測量精度
AR-01 采用雙攝像頭激光掃描系統，搭載 670nm 可見半導體激光光源，通過 52 段精細旋轉分割掃描，實現了 ±1% 的測量精度與 ±0.2% 的重復測量精度。這種高精度表現源于其創新的 "激光切片" 測量原理 —— 激光束以 400 點 / 線的高密度采樣率對面包表面進行方位掃描，結合雙視角圖像融合算法，還原不規則曲面的三維形態，解決了傳統油菜籽填充法因顆粒間隙導致的 ±5% 以上誤差問題。
設備的測量范圍精準覆蓋直徑 300mm、高度 150mm 的各類面包產品，無論是蓬松的吐司、造型復雜的歐式面包還是小巧的餐包，都能獲得穩定可靠的數據。特別設計的非接觸式測量方式，避免了對松軟面包結構的壓迫變形，確保了數據的真實性與樣品的完整性，這對研發階段的配方優化尤為重要。
研發場景：質構參數驅動配方革新
在烘焙研發領域，AR-01 的核心價值在于其超越傳統體積測量的 "質構 - 體積" 聯動分析能力。設備不僅能精準測量體積、長徑、試驗、短徑等基礎參數，更能同步計算面包的縱橫比、剛度（こしもち）等關鍵質構指標，這些參數直接關聯面團發酵程度、面筋網絡結構等工藝核心要素。
某連鎖烘焙企業研發總監反饋："使用 AR-01 后，我們能通過剛度參數量化評估不同面粉筋度對面包彈性的影響，將新品開發周期從原來的 45 天縮短至 30 天。" 這種效率提升源于設備的多模式測量設計 —— 在高精度模式下，40 秒即可完成一次包含體積、質構、形態的全參數檢測，數據直接以 CSV 格式導出至 Excel，無需人工轉錄，大幅降低了數據誤差率。
品控場景：靈活速度適配生產需求
針對生產線質檢的高頻次需求，AR-01 提供三種可切換的測量模式：雙攝像頭高速模式（20 秒 / 樣品）、單攝像頭極速模式（10 秒 / 樣品）以及高精度分析模式（40 秒 / 樣品）。這種靈活性使其既能滿足批次抽檢的效率要求，又能應對關鍵工藝節點的精細檢測。
與市場同類產品相比，AR-01 展現出鮮明的場景適配優勢：相較于側重 3D 建模的 Volscan Profiler，AR-01 以更簡潔的操作和針對性參數直擊面包質構核心需求；對比主打大樣品測量的 BolScan BVM 系列，其 150mm 高度的測量范圍更契合中小型面包的常規檢測場景。某中央工廠的實際應用顯示，采用 AR-01 后，每班的質檢效率提升了 300%，同時因體積偏差導致的產品報廢率下降了 2.3%。
數字化賦能：從數據采集到決策支持
AR-01 搭載的多語言操作系統（含簡體中文）支持測量數據的即時存儲與趨勢分析，通過連續記錄的體積、比容（可選配重量傳感器）等參數，可建立面團發酵、烘烤工藝的數字化模型。這種數據驅動模式使研發人員能精準捕捉配方微調對產品品質的影響，例如通過 | g 酵母添加量變化導致的 0.8% 體積差異，從而實現工藝參數的精細化控制。
在質量追溯體系中，設備生成的標準化檢測報告可直接對接生產管理系統，滿足食品行業嚴苛的合規性要求。某烘焙集團的品控經理評價："AR-01 的數據分析功能讓我們終于實現了從 ' 經驗判斷 ' 到' 數據說話 ' 的轉變。"
從實驗室的配方優化到生產線的質量把關，K-Axis AR-01 激光體積計正以其精準的測量性能、靈活的應用場景和數字化的管理能力，重新定義烘焙行業的品質控制標準。對于追求研發效率與產品一致性的烘焙企業而言，選擇 AR-01 不僅是檢測設備的升級，更是生產模式向精細化、數字化轉型的關鍵一步。
