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15270896115適合評估光學元件的多端口光功率計介紹
多端口光器件光學特性的高速測量
可進行高速測量（每個端口最多 100 萬個記錄點）
一臺設備最多可測量20個端口（可同時使用多臺設備）
功率計模塊 (MPM-211 / 212/215)
電流表模塊 (MPM-213)
概述
MPM-210H 非常適合對多端口光學組件（例如波長選擇開關 (WSS) 和 AWG 模塊）進行插入損耗和 WDL/PDL 測量。通過與配備功率監(jiān)視器輸出的可調光源（TSL 系列）組合，可以實時消除光源的光輸出波動，并進行高精度的損耗測量。
有關光學表征系統(tǒng)的更多信息，請參閱掃描測試系統(tǒng) 。
特征
高速測量
每個
端口最多可進行 100 萬點的記錄采樣 每個端口配備兩個存儲器，即使在記錄期間也可以讀取
最高 100 kHz 的高速采樣是可能的
高動態(tài)范圍
-80 ~ + 10dBm (MPM-211 / 212)
-70 ~ + 5dBm (MPM-215)
高動態(tài)范圍（在記錄模式下）
50dB / 掃描 (MPM-211 / 212)
70dB / 掃描 (MPM-215)
電流表模塊 (MPM-213)
輸入功率范圍 --70 至 + 10 dBmA
配備模擬輸出（MPM-212）
最多可安裝5個模塊（最多可同時測量20個端口）
波長范圍 1250-1650 nm
MPM-210H 是 MPM-210 的向上兼容型號
運用
光功率測量
IL/WDL/PDL 測量（掃頻測試系統(tǒng)）
