日本SNK表面附著異物可視化技術(shù)

發(fā)布時(shí)間：2021-03-24　點(diǎn)擊量：1476

日本SNK表面附著異物可視化技術(shù)

可視化技術(shù)，用于觀察粘附在表面的細(xì)小顆粒，異物或污垢

通過使用細(xì)顆粒可視化技術(shù)，可以高靈敏度地檢測出光滑表面上的顆粒。另外，通過可視化由于顆粒成分引起的熒光，可以每天處理表面異物和污垢。

如何使用散射光

高靈敏度粒子可視化技術(shù)是一種捕獲運(yùn)動粒子的散射光的技術(shù)。當(dāng)產(chǎn)品以高靈敏度移動時(shí)，可以使用相同的原理檢測表面上的異物或微弱的散射光。當(dāng)使用激光時(shí)，它只能應(yīng)用于光滑的產(chǎn)品，但是例如對于膠片，也可以通過可視化檢測張緊的位置。

如何一起使用熒光

附著在表面上的異物和污垢可能會使該組件發(fā)出的熒光返回。為了澄清熒光色，有必要設(shè)計(jì)要照射的光，但是如果使用特殊的濾光片將散射光切斷，則表面上的異物將非常鮮艷且易于觀察。無論表面光滑度如何，此方法都可以在光線到達(dá)時(shí)可視化。可以免費(fèi)租用“ D Light”（約2天）。請借此機(jī)會嘗試一下。

利用表面粒子可視化技術(shù)的z佳解決方案

“ D Light”，一種工具，可以更容易地從表面的異物和污垢中看到熒光色。
“ D-scope”，一種可以捕獲微弱的熒光并分析各種細(xì)顆粒信息并將其轉(zhuǎn)換為數(shù)據(jù)的工具。
“ Parallel Eye F”是一種相對容易設(shè)置在要可視化的表面上的光源。
可視化寬而光滑產(chǎn)品表面的z佳光源是“ Parallel Eye H”。
“ Parallel Eye D”是可視化不平坦表面并使熒光更加突出的z佳光源。
具有專yong于微粒檢測的靈敏度和功能的超高靈敏度相機(jī)是專yong的超高靈敏度相機(jī)“ Eyescope”。
圖像處理包“ Particle Eye”可在PC上實(shí)時(shí)處理和錄制視頻
當(dāng)您要使用細(xì)顆粒可視化系統(tǒng)解決生產(chǎn)環(huán)境中的緊急問題時(shí)，可以提供現(xiàn)場評估服務(wù)
在產(chǎn)品開發(fā)和公共關(guān)系等地點(diǎn)使用細(xì)顆粒可視化系統(tǒng)時(shí)的產(chǎn)品開發(fā)/公共關(guān)系支持服務(wù)

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